minhkhoa0312
New member
Mình đang tìm hiểu về ảnh hưởng của tụ Y (Cy) đối với dòng common-mode (iCM) và dòng rò (leakage current). Dòng common-mode là dòng điện chạy cùng pha trên cả hai dây Live (L) và Neutral
của nguồn điện, thường do nhiễu điện từ (EMI) hoặc switching noise từ nguồn xung (SMPS). Nếu không được kiểm soát, iCM có thể gây nhiễu cho các thiết bị khác. Tụ Y (Cy) thường được sử dụng để giúp giảm iCM bằng cách cung cấp một đường dẫn có trở kháng thấp cho dòng này quay trở lại thay vì lan ra ngoài. Trong khi đó, dòng rò là dòng điện không mong muốn chạy xuống đất qua cách điện của thiết bị, có thể gây nguy hiểm cho con người nếu vượt quá mức an toàn.
Theo sơ đồ mạch thử nghiệm leakage current, ta có: Dòng rò (iLeakage) = i_Ciw + i_Cy và khi phân tích CM, Dòng common-mode phía thứ cấp xuống đất (iCM) = i_Ciw + i_Cy, trong đó i_Ciw là dòng qua điện dung ký sinh giữa cuộn sơ cấp và thứ cấp của biến áp, còn i_Cy là dòng qua tụ Y. Điều làm mình bối rối là mặc dù Cy giúp giảm iCM bằng cách cung cấp một đường dẫn quay về nguồn, nhưng trong bài test leakage current, Cy lại làm tăng iLeakage. Nếu công thức giống nhau, điều này có vẻ mâu thuẫn. Có ai có thể giải thích sự khác biệt chính giữa hai trường hợp này không? Cảm ơn mọi người
Theo sơ đồ mạch thử nghiệm leakage current, ta có: Dòng rò (iLeakage) = i_Ciw + i_Cy và khi phân tích CM, Dòng common-mode phía thứ cấp xuống đất (iCM) = i_Ciw + i_Cy, trong đó i_Ciw là dòng qua điện dung ký sinh giữa cuộn sơ cấp và thứ cấp của biến áp, còn i_Cy là dòng qua tụ Y. Điều làm mình bối rối là mặc dù Cy giúp giảm iCM bằng cách cung cấp một đường dẫn quay về nguồn, nhưng trong bài test leakage current, Cy lại làm tăng iLeakage. Nếu công thức giống nhau, điều này có vẻ mâu thuẫn. Có ai có thể giải thích sự khác biệt chính giữa hai trường hợp này không? Cảm ơn mọi người